Сканирующий туннельный микроскоп — прибор для изучения поверхности твёрдых электропроводящих тел, основанный на сканировании металлического острия над поверхностью образца на расстоянии 3-10 Å. Такое расстояние достаточно мало для туннелирования электронов через контакт, т. е. для протекания туннельного тока между остриём и образцом, при разности потенциалов между ними от единиц милливольт до нескольких вольт (в зависимости от материалов электродов и целей исследования).