Лазерные технологии
13. Лазерная технология полупроводников. Часть 2 Основные операции. Лазерный отжиг полупроводников после ионной имплантации
Скачать Содержание

Основные операции. Лазерный отжиг полупроводников после ионной имплантации


Несмотря на то, что лазерный отжиг уже достаточно хорошо освоен технологически, имеется ещё ряд принципиальных физических вопросов, касающихся экспериментов по ИЛО в наносекундном, пикосекундном и фемтосекундном диапазонах и поведению полупроводников в сильном лазерном поле (с интенсивностью 107–1012 Вт/см2). Это вопросы о характере и скорости электронной, электрон-фононной и фонон-фононной релаксации при генерации свободных носителей с плотностью до 1022 в см3 за времена (10−9−10−14) с, о состоянии, в котором находится эта сверхплотная электронно-дырочная плазма. Не выяснен окончательно (особенно в фемтосекундном и пикосекундном диапазонах) механизм плавления кристалла под действием лазера: имеет ли он место благодаря обычному нагреву решётки или благодаря возникновению плазменно-индуцированных мягких фононных мод; происходит ли плавление после того, как полученная решёткой энергия термализуется среди всех фононных мод, или когда она остаётся сосредоточенной в коротковолновом участке зоны Бриллюэна, а фононы в центре зоны остаются холодными. Эти вопросы интенсивно исследуются теоретически и экспериментально. Для окончательного их разрешения первостепенную важность имеет адекватная экспериментальная диагностика.

В соответствии с критерием Линдемана плавление кристалла (Т = Тm) начинается тогда, когда среднеквадратичное отклонение атома от положения равновесия (<u2>) составляет определенную долю х от квадрата размера элементарной ячейки a2 (для большинства веществ 0,2 < х < 0,25).

Остается открытым вопрос, происходит ли фазовый переход твердое тело — жидкость после того, как энергия термализуется среди всех фононных мод j (1 ≤ j ≤ N), или когда всего лишь несколько наиболее сильно «раскачанных» фононных мод имеют столь большие амплитуды qj, что критерий Линдемана начинает выполняться.

Если в тепловой модели плавление кристалла происходит благодаря интенсивному тепловому движению атомов решетки, то в плазменной модели фазовый переход твердое тело — жидкость вызван «размягчением» поперечных акустических фононов в ковалентных полупроводниках при росте концентрации электронно-дырочной плазмы. Этот эффект обусловлен тем, что при переходе из валентной зоны в зону проводимости электрон переходит из связывающего состояния в антисвязывающее, так что ковалентная связь ослабляется. Эффект размягчения акустических фононов может приводить также к уменьшению температуры обычного плавления.